测试压缩技术兴起于20世纪90年代末，由于芯片规模越来越大，所需的测试向量集也随之快速增长。主流的芯片测试仪（ATE）已无法将芯片测试向量集一次性地加载到测试仪内存中，这导致芯片测试时间增加了数倍。而在芯片生产中，测试成本是直接和测试时间挂钩的。为了控制芯片的测试成本，有必要保证测试向量集不会超出测试仪内存的容量，但同时测试质量又不能降低，这就是测试压缩技术的缘起。

继续阅读：技术   测试   简介

此文由 怡心湖 编辑，若您觉得有益，欢迎分享转发！：首页 > 常识论 » 可测性设计技术之测试压缩技术简介